关于ICT治具针点验证

相信ICT测试工程师们都遭遇过如下的实际问题且被它困扰：

问题描述：有一个已生产测试的产品，现在收到它的ECN（工程变更通知），将该产品PCB从版本A变更到了版本B。 
那么ICT工程师关心的问题是：虽然ECN里告知了版本变化，添加/删除了哪些元件；但PCB线路的变化程度未知，这个变更后的产品是否可以直接在已有的治具上测试？如果不能直接使用需要怎样修改才能再次使用？还是需要重新制作治具等？

工程师要确认这些问题，首先要完成如下的分析验证：

1，测试点位置验证。就是已有治具的针点在新版本PCB上是否可用，否则需要把对应的针点拔除，防止探针扎坏元器件和线路。

2，新版本PCB是否添加了测试点，有新的位置可以植针，以提高可测率。

3，元器件位置的变化。如果变化了，需要对治具托盘进行修改，防止压坏元器件。

4，元器件引脚和网络关系的变化，对应针点号的变化，如果变了需要同步修改程序。

要完成如上分析验证，靠人工核对是很困难的，非常耗费时间，且准确率低。

那么有什么方法可以快速准确的进行分析，这里就需要用到专业的分析软件。VayoPro-Test Expert可以帮助工程师们快速得到治具针点验证报告，帮助工程师们准确的分析PCB版本变更后，旧治具是否可以用，需要移除哪些针点，在哪些位置还可以添加新的探针等，以及配合CAD元器件和网络分析比较报告，即可确认该ECN变更对测试的影响以及应对方法。

如下是一个针点验证分析实例：

针点验证分析界面

专业的分析报告，根据如下的报告可以看出，229个针点可以重复使用（Class#1），1个针点需要移除（Class#3），可以新加2个针点位置（Class#5）

而报告（Class#3）显示41号针点需要移除，从如下图形界面可以看出41点下面以及没有了测试点，所以必须拔除，否则有扎伤PCB的危险。  

 根据报告（Class#5）显示可以新加2个针点（#231,#232）来提高可测率，从图形界面可以查找到它们的位置。